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薄膜測(cè)厚儀特點(diǎn)知多少

更新時(shí)間:2014-01-21      瀏覽次數(shù):1480

1、非接觸式測(cè)量,用光纖探頭接收反射光,不會(huì)被破壞和污染薄膜;

2、薄膜測(cè)厚儀測(cè)量速度快,測(cè)量時(shí)間為秒的量級(jí);

3、可用來(lái)測(cè)薄膜厚度,也可用來(lái)測(cè)量薄膜的折射率n和消光吸收k;

4、薄膜測(cè)厚儀可測(cè)單層薄膜,還可測(cè)多層膜系;

5、薄膜測(cè)厚儀可廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì),半導(dǎo)體,液晶等透明或半透明薄膜材料;

6、軟件的材料庫(kù)中整合了大量材料的折射率和消光系數(shù),可供用戶(hù)參考。

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